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Next-generation In-Line SEM

BSR-2000

BSR-2000은 300mm Wafer Backside Review를 위한 차세대 플랫폼으로, 고분해능 Imaging, Damage Free Wafer Handling, Flip System, Vacuum Stage, AI 기반 Image Quality Enhancement 및 ADC 기능을 통합하는 방향으로 개발되고 있습니다.

BSR-2000 product image
BSR-2000 Product Image

Target Technology

BSR-2000 Development Focus

300mmWafer Backside

300mm Wafer Backside Review SEM 플랫폼 고도화를 목표로 합니다.

In-LineFab Integration

공정 자동화 및 In-Line 리뷰 흐름과의 연계를 검토합니다.

Flip SystemFront / Back Handling

Wafer Front/Backside Damage Free Handling과 Flip System을 개발 방향에 포함합니다.

AIImage Quality / ADC

AI 기반 화상품질 향상과 결함 분류 자동화 기능을 검토합니다.

VacuumParticle Control

Load Lock, Vacuum Stage, Particle Control 기반 안정적 운용을 지향합니다.

HBM4 / HBFAdvanced Process

차세대 고부가 반도체 공정 대응 가능성을 검토합니다.

Development Items

제품별 개발·적용 방향

고분해능 Imaging

Column, Back-bias / Retarding Voltage, 방전대응기술 등을 포함한 Beam 안정화 및 고분해능 영상화를 검토합니다.

Damage Free Handling

Wafer Front/Backside Handling, Holder, Stage, Flip System을 중심으로 웨이퍼 손상 최소화 구조를 검토합니다.

Particle Free Vacuum System

Load Lock Chamber, Vacuum Stage, Gate Valve, Pumping 구조를 포함해 오염과 Particle 영향을 줄이는 방향으로 개발합니다.

Software & Factory Automation

통합 GUI, ADR/ADC, AI 이미지 품질 향상, 결과 리포트 및 공장 자동화 연계를 제품 개발 범위에 포함합니다.

BSR-2000은 개발 로드맵 제품입니다. 상세 사양, 출시 일정, 공개 가능한 성능 수치는 공식 공개 단계에 맞춰 업데이트합니다.

Product Inquiry

BSR-2000 기술 미팅 및 개발 방향 상담

고객 공정 조건, 자동화 범위, Wafer Handling 요구사항을 공유해 주시면 BSR-2000 로드맵과 적용 가능성을 함께 검토해 드립니다.